MIP LM 3086 SE灰尘和不透明度监测器

  • 可靠、坚固的激光技术
  • 易于安装
  • 减少维护
  • 独特的模拟零点和量程校准系统
  • 光学表面的连续控制
  • TÜV根据第13条获得批准。BlmSchV和TA Luft
  • MCERTS性能标准第4版,日期为2018年7月:EN15267和QAL1

光学参考路径

光学器件中的污垢从测量值中消除,提供真正的长期精度和稳定性

自动校准和零点检查每秒40次

激光光源

  • 在不改变系统中单个组件的情况下测量长达20米的路径
  • 出色的光束准直(窄而强的激光束)
  • 标准波长和光学参考路径保证了长期的准确性和稳定性

功能

  • 基本系统健康检查的启动诊断
  • 在后台进行连续诊断,以警告异常或超出规格的情况
  • 光学和质量读数的多种显示器替代方案
  • 易于与CEMS系统集成
  • 现场审核,无需在安装位置拆卸
Opacity % Range 0 … 100.0 %
Opacity % Resolution 0.1 %
Optical densityRange 0 … 3.0
Optical densityResolution 0.001 D
Mass / g/m3Range 0 … 100
Mass / g/m3Resolution 1 mg/m3
 
PS-1/Test time 1 hourCalibration drift < 0.2 %
PS-1/Test time 24 hoursCalibration drift < 0.2 %
PS-1/Test time 336 hoursCalibration drift < 0.2 %
PS-1/Test time 1 hourZero drift < 0.2 %
PS-1/Test time 24 hoursZero drift < 0.2 %
PS-1/Test time 336 hoursZero drift < 0.2 %
 
Stack overpressure, max25 mbar
Stack temperature, max+ 650 °C
Path length 1 … 20 meters

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