产品说明
当使用MetriCorr ICL系列设备时，必须配备ER探针以测定腐蚀速率并获取电化学特征数据。该探针通过模拟涂层缺陷，测量暴露的试片元件与屏蔽参比元件的电阻值，并运用简易算法计算探针厚度变化。
通过同步记录腐蚀速率与电化学特征数据（如干扰工况下的参数），可实现对腐蚀效应的精准分析。所有关键参数（腐蚀速率、交/直流电位、交/直流电流密度及分布电阻）均在同一金属表面测量，确保分析结果包含所有相互作用的化学与电化学反应。
ER探针适用于多种腐蚀环境监测，多样化的探针结构与外壳材质设计可满足不同工况需求，并在整个使用寿命期间持续为运营者提供可靠的腐蚀与阴极保护数据。
最新款MetriCorr ERv2探针在插头内嵌存储芯片，载有数字证书。当连接至MetriCorr Slimline ICL或ICL-C设备时，系统将自动读取认证信息并立即进入测量就绪状态。
产品特性
- 腐蚀速率监测 —— 超高分辨率，可实现精准腐蚀诊断
- 试片测量 —— 交/直流电流密度、极化电位、分布电阻
- 嵌入式认证数据 —— 无需纸质文件记录
- 工程优化设计 —— 特别适用于交/直流干扰腐蚀监测
- 温度补偿系统 —— 配备散热器、参比电极及专利补偿技术
- 坚固结构设计 —— 可适应土壤环境/高温工况/海上作业
测量功能
✓ 腐蚀速率
✓ 瞬时断电电位
✓ IR降补偿电位
✓ 直流电流密度
✓ 交流电流密度
✓ 分布电阻
