MetriCorr ER探头在使用MetriCorr ICL装置时，需要使用ERv2探头来确定腐蚀速率和测量电指纹
ER腐蚀速率探头是一个精密的电子产品,探头模拟涂层缺陷,通过使用简单的数学算法测量暴露的试片元件和屏蔽参考元件的电阻，得出探头厚度。
同时记录腐蚀速率和电指纹，可以有效分析例如干扰条件。在同一金属表面上测量所有参数（腐蚀速率、交流/直流电位、交流/直流电流密度和扩散电阻），确保所有相互作用的化学和电化学反应都是分析的一部分。
ER探头可用于分析突然及各种环境中的腐蚀，各种探头设计和外壳材料可确保探头适合用途，并在其整个使用寿命期间继续向操作员提供有价值的腐蚀和CP信息。
最新版本的MetriCorr ERv2探头在插头中嵌入了内存，包含数字证书。连接探头后，MetriCorr的Slimline ICL或ICL-C将自动读取该值，且装置已准备好进行测量。
数据记录仪的数据可以通过接口导入计算机，也可以使用GSM/GPRS网络无线传输,卫星或光纤/LAN 提供数据通信
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