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J chadwick 8400 光学深度千分尺
8400 Optical Depth Micrometer
在“维修还是更换”的决策过程中，避免不必要的猜测有助于节省资源。因为这样可以确定哪些部件可以通过维修恢复使用状态，从而避免不必要的更换成本。
光学微米计既可以作为手持式设备使用，也可以安装在实验室的支架上。它适用于各种平面和曲面，能够检测各种材料和表面的状况，包括复合材料和透明材料。利用它可以测量划痕、凹陷、毛刺、孔洞等缺陷的深度，还能用于检测刻线、雕刻痕迹以及各种标记等。
J chadwick 8400 光学深度千分尺运作原理/如何使用
光学微米计利用焦距来测量两点之间的深度，也就是它们之间的垂直距离。
首先，确定一个测量起点，也就是“零点”。具体做法是：将焦点对准受损区域正下方的表面（即表面A）。确认焦点对齐后，按下按钮将数字显示屏归零。
接下来，请注视受损区域的最低点（即表面B），然后根据数字显示屏上的显示，记录下该处的损伤深度。
J chadwick 8400 光学深度千分尺技术参数/信息
准确性：
+/−0.001英寸（0.02毫米）
+/−0.001英寸（0.02毫米）
测量范围：
100倍至200倍放大倍率：最大放大值为0.2500英寸
40倍至80倍放大倍率：最大放大值为1.2500英寸
视野范围：
直径在0.04英寸到0.18英寸之间
