使用基于X射线辐射的测量设备提供了非接触测定层厚度、密度、每个区域的重量或材料组成。在大多数情况下,可以使用低能量的X射线源。
通常情况下,X射线辐射仅限于测量路径本身,因此设备辐射外难以检测到。如果需要生产设备的维护,测量将被关闭,然后不会出现辐射。材料性能不受辐射的影响或改变。
X射线测量装置的典型应用是:
- 散装材料组成的测定
- 泥浆或悬浮液成分的测定
- 挖掘
- 可选性监测
- 钻孔探测
- 钻孔岩屑分析仪
- 粒度分析
- 层厚测量
- 测量材料厚度(钢带、纸张等)
- 泥浆密度的测定
- 图像分析(剥离、孔洞等)该图显示了涂层钢带的每区质量
•在线元素分析:
TEXAS
◾散装材料
◾X射线荧光
◾没有采样要求
FLORIDA
◾悬浮液和溶液
◾X射线荧光
◾没有采样要求
·图像分析:
OSLO
对生产质量控制
◾光学测量和评估
PANAMA
◾对散装材料的粒径分布带分析
◾光学评价
•地质与勘探:
IBERIA
◾钻孔探测
◾元素分析
◾X射线荧光
INDIANA
钻孔德比斯
◾分析
◾元素分析
◾X射线荧光
•采矿和准备:
OREGON
◾可选性监测
◾无化学品的需求
◾结合光学和辐射测量
◾适合矿典型的密度范围(煤…铁矿石)