maxLIGHT pro
高效率光谱仪
平场掠入射光谱仪
波长范围:1–200 nm
集成光束剖面仪
模块化,即插即用设计
maxLIGHT 由于其无狭缝设计,提供了最大的光收集效率和业内最高的效率。经过像差校正的平场光栅可覆盖 1–200 nm 的波长范围,并提供广泛的光谱带宽,例如每个单独光栅可覆盖 5–80 nm。
模块化设计可适配多种实验几何和配置。maxLIGHT 配备集成狭缝支架和滤光片插入单元,以及电动光栅定位系统。
探测器选项包括:
XUV CCD:提供最高分辨率和动态范围
MCP/CMOS 探测器:提供最宽波长覆盖范围,并支持门控/增强检测
如有特殊需求,我们也可提供 maxLIGHT 光谱仪的定制衍生版本。
无狭缝设计
HP Spectroscopy 的专利光谱仪设计采用直接光源成像,因此无需狭窄入射狭缝,可最大化光收集效率。与传统光谱仪架构相比,达到光谱仪探测器的光强可增加约 20 倍。同时,该架构大大提高了日常操作的稳定性。

结果
使用 maxLIGHT XUV 对高次谐波(HHG)进行表征(左图),应用于阿秒 XUV 脉冲的巧合光谱学实验。
高次谐波源自单光子跃迁(蓝色箭头),而 XUV 与红外光的双光子跃迁则在光电子光谱中产生边带(右图)。
J. Vos 等,《小分子中取向依赖的立体 Wigner 时间延迟与电子定位》
Science 360, 1326–1330 (2018)


测量结果展示了信号强度的提升。在相同信号强度下,maxLIGHT(实线)的分辨率明显高于标准光谱仪(虚线)。若要达到同等分辨率,标准技术需要使用窄狭缝设置,因此信号强度会显著下降。
C. Hauri 等,《用于引导瑞士自由电子激光的高次谐波辐射》
Andor Learning (2016)


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