进口代理hp spectroscopy maxLIGHT pro高效率光谱仪, 平场掠入射光谱仪,采用专利无狭缝设计,实现最高效率

maxLIGHT pro
高效率光谱仪
平场掠入射光谱仪

maxLIGHT 由于其无狭缝设计,提供了最大的光收集效率和业内最高的效率。经过像差校正的平场光栅可覆盖 1–200 nm 的波长范围,并提供广泛的光谱带宽,例如每个单独光栅可覆盖 5–80 nm。

模块化设计可适配多种实验几何和配置。maxLIGHT 配备集成狭缝支架和滤光片插入单元,以及电动光栅定位系统。

探测器选项包括:

  • XUV CCD:提供最高分辨率和动态范围

  • MCP/CMOS 探测器:提供最宽波长覆盖范围,并支持门控/增强检测

如有特殊需求,我们也可提供 maxLIGHT 光谱仪的定制衍生版本

无狭缝设计
HP Spectroscopy 的专利光谱仪设计采用直接光源成像,因此无需狭窄入射狭缝,可最大化光收集效率。与传统光谱仪架构相比,达到光谱仪探测器的光强可增加约 20 倍。同时,该架构大大提高了日常操作的稳定性。

 

结果
使用 maxLIGHT XUV 对高次谐波(HHG)进行表征(左图),应用于阿秒 XUV 脉冲的巧合光谱学实验。

高次谐波源自单光子跃迁(蓝色箭头),而 XUV 与红外光的双光子跃迁则在光电子光谱中产生边带(右图)。

J. Vos 等,《小分子中取向依赖的立体 Wigner 时间延迟与电子定位》
Science 360, 1326–1330 (2018)

使用 maxLIGHT XUV 测量的高次谐波(HHG)光谱(右图)以及在 Kagome 光子晶体光纤(PCF)中展宽的基频 25 fs 脉冲光谱(左图)。随着泵浦能量增加,孤子自频蓝移对高次谐波的影响明显可见。

F. Tani 等,《通过孤子动力学实现连续可调波长的高次谐波产生》
Optics Letters 42, 1768–1771 (2017)

测量结果展示了信号强度的提升。在相同信号强度下,maxLIGHT(实线)的分辨率明显高于标准光谱仪(虚线)。若要达到同等分辨率,标准技术需要使用窄狭缝设置,因此信号强度会显著下降。

C. Hauri 等,《用于引导瑞士自由电子激光的高次谐波辐射》
Andor Learning (2016)

 

在 150 kHz 重复率下使用 maxLIGHT XUV 测量的截止区高次谐波(HHG)光谱。载波-包络相位(CEP)的变化显示,在某些 CEP 设置下调制消失,表明形成了孤立的阿秒脉冲。

M. Krebs 等,《迈向兆赫重复率下的孤立阿秒脉冲》
Nature Photonics 7, 555–559 (2013)

测量展示了 maxLIGHT 的分辨能力。所示高次谐波光谱由单个飞秒激光脉冲与固体靶相互作用产生,并经过随后的光谱滤波。高次谐波产生过程中固有的亚结构通过 XUV 光谱仪清晰分辨出来。

L. Waldecker 等,《固体密度等离子体高次谐波的聚焦》
Plasma Phys. Control. Fusion 53, 124021 (2011)

应用领域

  • 高次谐波产生光源

  • 阿秒科学

  • 强激光–物质相互作用

  • 自由电子激光

  • 激光及放电产生的等离子体光源

  • X 射线激光

  • 激光驱动的二次光源

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