highLIGHT
高分辨率光谱仪
平场掠入射光谱仪
同级别中最佳的光谱分辨率
波长范围：1–100 nm
高效率无狭缝模式
highLIGHT 提供市场上最方便的平场配置下的最高光谱分辨率。分辨率可达到 0.006 nm 或更高，同时实现宽单次拍摄波长覆盖。highLIGHT 可选择使用或不使用入口狭缝。
模块化设计包括集成狭缝支架和滤光片插入单元，并配备电动光栅定位系统。
探测器选项包括：
XUV CCD 探测器：用于获得最高分辨率和动态范围；
MCP/CMOS 探测器：实现最宽波长覆盖，并支持门控/增强型探测。
欢迎联系我们，讨论您的具体应用需求。
此外，还可提供 highLIGHT 光谱仪的定制化衍生型号。
无狭缝设计
HP Spectroscopy 的专有光谱仪设计采用直接光源成像方式，因此无需使用窄入口狭缝，最大化光收集效率。与传统光谱仪结构相比，到达探测器的光通量可提高约 20 倍，同时显著增强了设备在日常操作中的稳定性和可靠性。
结果
使用 HP Spectroscopy highLIGHT XUV 测量的光纤激光系统高次谐波（HHG）的 XUV 光谱
测量了频率倍增的掺铒光纤激光系统（334 kHz，90 μJ，<300 fs）的第 9 和第 11 次谐波光谱，使用 highLIGHT XUV。谐波的光谱带宽约为 ∼20 meV FWHM，对应的相对能量带宽为 ΔE/E = 7.5×10⁻⁴。
V. Hilbert 等，《紧凑型、即插即用、窄带宽、可调谐且高光子通量的极紫外光源》
AIP Advances 10, 045227 (2020)
使用 highLIGHT XUV 测量的第 19 次谐波光谱，激励激光为 1030 nm 驱动光。通过改变驱动脉冲对的延迟，在超过一个驱动激光周期的延迟范围内进行调谐。白色十字表示复合驱动脉冲的中心光子能量乘以谐波阶数 19。
V. Schuster 等，《通过两个驱动脉冲干涉实现高次谐波的灵活光谱调谐》
Opt. Express 29, 22117 (2021)
使用 highLIGHT SXR+ 对氮原子在 2.88 nm（430 eV，跃迁 1s² → 1s2p）谱线进行了发射光谱测量。全宽半高（FWHM）为 CCD 相机的 1.7 个像素（像素尺寸 13 μm），对应的分辨率为 1890。探测器限制下的分辨率为 3290。
数据来源：Dr. K. Mann，哥廷根激光实验室（Laser-Laboratorium Göttingen）
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