进口代理hp spectroscopy proXAS台式 NEXAFS 系统, 集成 NEXAFS 光谱解决方案

proXAS
台式 NEXAFS 系统

• 首个集成 NEXAFS 光谱解决方案

• 无需申请光束时间

• 可进行地质学、生物学及材料研究的化学态分析

• 光谱质量可与同步辐射相媲美

proXAS 是市场上首个可在实验室内进行 NEXAFS 测量的系统。现在可以在实验室内部完成元素分析的指纹识别，快速且准确。

该系统结合了高可靠性的激光驱动 XUV 光源和定制光谱仪，光谱分辨率极高，可达 1900。能量范围 200–1200 eV，可用于测量 C、N、O、Ca、K、Ti 等元素的 K 边。

proXAS 提供定制版本。对于高能量应用，请参考 hiXAS。如需了解更多信息，请联系我们讨论您的应用。

元素范围
台式 NEXAFS 测量可访问的元素
proXAS 可测量的元素范围包括：

• C、N、O、F 的 K 吸收边

• K、Ca、Ti、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu 的 L 吸收边

即使是分析物浓度仅为 0.2 wt% 的稀释样品，也可进行测量。

结果
针铁矿、赤铁矿的 NEXAFS 样品光谱

在氧 K 边测得的氧化矿物 针铁矿（goethite）、赤铁矿（hematite）、水铁矿（ferrihydrite） 以及 CCa-2 绿泥石（chlorite） 的 NEXAFS 光谱。

1. 使用台式 NEXAFS 系统 测量，测量时间为 5 分钟

2. 为对比，在同步辐射光源上测得的 NEXAFS 光谱

峰位能量偏差小于 0.06%，显示 proXAS 测量结果与同步辐射数据高度一致。

PMDA-ODA 聚酰亚胺的碳 K 边 NEXAFS 光谱

1. 使用台式 NEXAFS 系统 测量，测量时间为 2.5 分钟

2. 为对比，在同步辐射光源上测得的 NEXAFS 光谱

光谱中的所有特征峰（对应苯环的电子跃迁）均清晰可分辨。

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