nanoLIGHT
集成光谱仪与光束剖面仪
带光束旁路的原位光束表征
光谱仪与光束剖面仪
波长范围：10–80 nm
快速简便的集成
紧凑多功能设备
nanoLIGHT 是一款用于对 XUV 光束进行周期性原位采样的全方位表征仪器。它集成了光谱仪和光束剖面仪，并可完全收回以实现光束旁路。操作模式切换快速且自动化。
凭借 16×17 cm² 的紧凑尺寸，nanoLIGHT 可适用于最狭窄的实验装置，是理想的改装解决方案。
其极宽的波长范围（10–80 nm）可同时记录。滤光片插入单元可实现金属滤光片的选择与校准。整个波长范围内高达 20% 的光栅效率以及 MCP 探测器的可调灵敏度，提供了极大的动态范围。
nanoLIGHT 也提供定制的腔内版本。
下载
规格表：H+P nanoLIGHT.pdf
nanoLIGHT：集成 XUV 光谱仪与光束剖面仪
规格
应用领域
高次谐波产生光源
阿秒科学
强激光–物质相互作用
自由电子激光
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