hardLIGHT TXS
软 X 射线光谱仪（Tender X-ray Spectrometer）
TXS 光谱仪 可在高次谐波（HHG）光束线路、X 射线自由电子激光及台式 X 射线激光中实现精确光子诊断。光子能量在 2–4 keV 范围内可实现单次测量。
在 von Hamos 几何下，采用高效率反散射模式，可对 X 射线光谱进行“指纹”测量，用于在线光束表征。透射光束保持不受干扰，传输效率 >90%，可继续用于实验。
只需将反散射探头替换为材料样品，即可将 hardLIGHT TXS 用于 X 射线发射光谱（XES）测量。软 X 射线波段可灵敏地探测多种材料的化学态，例如在 2 keV 测量硫，可为电池研究提供重要信息。
TXS 光谱仪也可提供定制衍生版本。如有需求，请联系我们讨论您的应用。
结果
硫 K 壳层的 X 射线吸收光谱（XAS）
（数据来源：Dr. W. Malzer，柏林工业大学）
应用领域
高次谐波（HHG）光束线路、X 射线自由电子激光及台式 X 射线激光的光子诊断
原位 X 射线发射光谱（XES）测量
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