我们的布鲁斯特角样品架允许使用透射光谱法在不同角度测量薄膜。这种测量可以用来从大多数情况下产生的干涉条纹中提取薄膜厚度和折射率数据。
布鲁斯特角样品架还消除了干涉条纹，干涉条纹通常会模糊弱吸收带。当与偏振器一起使用并以布鲁斯特角定位时，p偏振光以最小反射透过表面。
布鲁斯特角样品架主要应用：
当使用偏振器时，模糊弱吸收带，消除干扰条纹。
便于从透射测量中确定薄膜厚度和折射率
布鲁斯特角样品架主要特征：
在红外或紫外分光计中，以布儒斯特角或任何其他角度安装薄膜。
精确设置和读取入射角的刻度盘.
测量不同入射角度下样品的透射率
支架可放入固体样品支架中
兼容Harrick Scientific的高效线栅偏振器和Glan-Taylor偏振器
标准配置：
布鲁斯特角样品架
一个样品支架
安装滑板.
搭配配件：
格兰-汤普森偏振器-PTH-SMP 线栅偏振器-PWG-U1R
