Harrick scientific VariGATR可变角/掠角反射附件
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VariGATR掠角ATR附件是分析半导体和金属基质上的单层的革命性方法。VariGATR是可变角度的，因此可以优化入射角，以获得这类样品的最高灵敏度。其专门设计的压力施加器经过优化，可在样品和Ge ATR晶体之间提供良好的接触。VariGATR非常适合快速、可重复的测量，与掠射角方法相比，灵敏度至少提高了一个数量级。此外，它还提供了易于使用、完全预对准的水平取样附件。
特征
- 方便的水平采样表面。
- 内置压力施加器，带滑动离合器，可重复施加压力。
- 从60°到65°的连续可变角度允许优化最大灵敏度。
- 防反冲机构允许精确、可重复的角度选择。
- 安装Ge ATR晶体。
- 可容纳直径达8英寸的样品，中心取样圆盘直径达6英寸。
- PermaPurge用于快速净化系统。
- 选项包括:
- 用于增强光谱对比度和取向研究的线栅偏振器。包括滑板支架。
- 带数字读数的力传感器，用于精确测量ATR晶体和样品接触时施加的力。
- 低扭矩滑动离合器可用。
- 适用于大样本的角度标尺观察辅助工具。
包含
- 锗半球ATR晶体。
- 内置压力施加器，设计用于容纳大量样品。
- 为指定的光谱仪安装硬件。
