BTS2048-UV
使用这款高质量的紧凑型光谱辐射计进行紫外线测量
- 高杂散光减少(BTS2048-UV-S 的缩小滤光片版本)
- 超快速接口和电子快门
- 高光学分辨率
- 适用于各种测量任务(UV LED、氘灯、钨灯到太阳辐射)
- 高杂散光减少有助于将精确校准转换为精确测量
概述:
紫外 CCD 光谱辐射仪与宽带 CCD 光谱仪
传统 CCD 探测器的光谱响应度通常在 200 nm 至 430 nm 范围内。通常,CCD 探测器的这个宽光谱响应范围被称为光谱辐射计的响应范围。然而,这没有考虑色散光栅的光谱响应函数,这进一步降低了检测器在紫外光谱中的响应度。这会导致 UV 测量信号出现重大误差,主要是通过长波杂散光。宽带光谱仪的光谱分辨率通常不足以保证精确测量窄带 UV LED。
专为紫外辐射设计的 CCD 光谱仪具有有限的光谱范围,并允许非常高的光栅效率和非常高的光谱分辨率。此外,滤光片还可用于显著减少杂散光。
用于紫外线辐射的 BTS2048-UV CCD 分光辐射仪
BTS2048-UV 满足高端紫外二极管阵列光谱仪的所有要求,尽管采用尖端技术,但价格极具吸引力。
BiTec 传感器的一个独特之处在于它结合了背照式 CCD 光谱仪和硅光电二极管,可提供高线性度,从而实现极快的测量。采用热电冷却的完全线性化 2048 像素 CCD 探测器的积分时间范围为 2 μs 至 60 s,因此具有非常宽的动态范围。这使得能够在较宽的强度范围内精确测量 UV LED。该设计在整个光谱测量范围内提供了0.8纳米的高光学分辨率,从190纳米到430纳米。光谱仪还配备了两个用于自动低杂散光测量的滤光片。对于存在其他光源的宽带 UV 灯和 UV LED 来说,这种测量是必要的。BiTec 探测器内的极高线性度 SiC 光电二极管用于 CCD 的线性化或用作参考探测器。SiC 光电二极管的辐射响应功能使其能够独立于 CCD 使用。辐射精度可以使用相应的光谱数据进行自动校正。因此,该设备可用于对非常微弱的信号进行快速测量,这使得 BTS20418-UV 非常适合集成到测角仪中。尽管尺寸紧凑(103 mm x 107 mm x 52 mm – 长 x 宽 x 高),但 BTS2048-UV 光谱辐射仪有一个遥控滤光轮,带有两个滤光片和一个用于暗测量的快门。
精确光谱辐射测量(低杂散光)
为了便于最佳地使用 CCD 传感器的动态范围并克服大多数阵列光谱辐射计在 UV 范围内的问题,在光束路径中放置了一个遥控滤光片轮(开放式、闭合式、滤光片)。该滤光片与智能测量和杂散光校正程序相结合,可实现 BTS2048-UV 的高质量测量。
BTS2048-UV 针对其他 UV 源的一般测量进行了优化。Gigahertz-Optik 的杂散光校准技术与进一步的智能测量程序相结合,可实现卓越的杂散光抑制。可根据要求选择校准 BTS2048-UV 附加杂散光校正矩阵。
绝对校准,绝对辐照度低至 200 nm!
多年的经验和设备齐全的 DAkkS 校准实验室 (D-K-15047-01-00) 使 Gigahertz-Optik 能够提供低至 200 nm 的可追溯校准。这拓宽了 BTS2048-UV 和 UV-C-LED 的应用范围。对于短波光谱范围,Gigahertz-Optik GmbH 实施了一种特殊的基于氘灯的校准策略。
用于前端和后端 LED 测试测量
BTS2048-UV 非常适合在工业应用中测试 UV 前端和后端 LED。其 CCD 检测器在触发测量之前集成了所有像素的电子零点设置功能(电子快门)。当测试 LED 在脉冲电流模式下运行时,电子快门和测量触发可以通过触发端口与电源同步。强大的微处理器只需 7 ms 即可通过快速 LAN 接口将完整的数据集传输到系统计算机。
直接安装,无需使用导光板
BTS2048-UV 光谱辐射仪具有扩散窗口,因此可用于测量紫外线辐照度,包括光谱和峰值波长,无需任何额外的附件组件。借助扩散窗口,BTS2048-UV 还可以直接安装在积分球、辐射镜和测角仪等附件上,以测量辐射功率、辐射度和辐射度分布。
用户软件和开发人员软件
标准的 S-BTS2048 用户软件具有可定制的用户界面,并提供大量的显示和功能模块,这些模块可以在使用 Gigahertz-Optik GmbH 的相应附件组件配置 BTS2048-UV 时激活。S-SDK-BTS2048 开发软件用于将 BTS2048-UV 集成到客户自己的软件中。
校准
光度测量设备的一个基本质量特征是其精确和可追溯的校准。BTS2048-UV 由 Gigahertz-Optik 的 ISO/IEC 17025 校准实验室进行校准,该实验室的光谱响应度和光谱辐照度根据 ISO/IEC 17025 获得 DAkkS (D-K-15047-01-00) 的认可。校准还包括相应的附件组件。每台设备都附有相应的校准证书。

用于 BTS2048-UV 的 S-BTS2048 软件

以太网接口缩短了数据传输时间

电子快门缩短了测量时间
规格:
常规
产品
λ | u(k=2) |
(200 – 239) 纳米 | ± 9 % |
(240 – 339) 纳米 | ± 6.8 % |
(340 – 359) 纳米 | ± 5 % |
(360 – 399) 纳米 | ± 4.3 % |
(400 – 430) 纳米 | ± 4 % |
光谱辐照度响应度 (200 – 430) nm
标准测量模式:200 nm 至 430 nm
超出范围的杂散光校正测量模式 (OoR SLC):200 nm 至 430 nm
杂散光校正带通测量模式 (BP SLC):300 nm 至 386 nm
光谱检测器:
集成检测器:
* 二极管的光谱响应度与矩形函数不对应(使用滤光片时无法实现)。当测量光谱偏离集成检测器校准光谱(UV LED,峰值为 405 nm)的光源时,使用 SMCF 校正测量结果。这种校正的不确定性取决于测量光谱的质量(噪声)和校正因子的大小(光谱范围)。