德国Gigahertz Optik BTS2048-UV紧凑型光谱辐射计 紫外线测量

BTS2048-UV

使用这款高质量的紧凑型光谱辐射计进行紫外线测量

  • 高杂散光减少(BTS2048-UV-S 的缩小滤光片版本)
  • 超快速接口和电子快门
  • 高光学分辨率
  • 适用于各种测量任务(UV LED、氘灯、钨灯到太阳辐射)
  • 高杂散光减少有助于将精确校准转换为精确测量

概述:

紫外 CCD 光谱辐射仪与宽带 CCD 光谱仪

传统 CCD 探测器的光谱响应度通常在 200 nm 至 430 nm 范围内。通常,CCD 探测器的这个宽光谱响应范围被称为光谱辐射计的响应范围。然而,这没有考虑色散光栅的光谱响应函数,这进一步降低了检测器在紫外光谱中的响应度。这会导致 UV 测量信号出现重大误差,主要是通过长波杂散光。宽带光谱仪的光谱分辨率通常不足以保证精确测量窄带 UV LED。

专为紫外辐射设计的 CCD 光谱仪具有有限的光谱范围,并允许非常高的光栅效率和非常高的光谱分辨率。此外,滤光片还可用于显著减少杂散光。


用于紫外线辐射的 BTS2048-UV CCD 分光辐射仪

BTS2048-UV 满足高端紫外二极管阵列光谱仪的所有要求,尽管采用尖端技术,但价格极具吸引力。

BiTec 传感器的一个独特之处在于它结合了背照式 CCD 光谱仪和硅光电二极管,可提供高线性度,从而实现极快的测量。采用热电冷却的完全线性化 2048 像素 CCD 探测器的积分时间范围为 2 μs 至 60 s,因此具有非常宽的动态范围。这使得能够在较宽的强度范围内精确测量 UV LED。该设计在整个光谱测量范围内提供了0.8纳米的高光学分辨率,从190纳米到430纳米。光谱仪还配备了两个用于自动低杂散光测量的滤光片对于存在其他光源的宽带 UV 灯和 UV LED 来说,这种测量是必要的。BiTec 探测器内的极高线性度 SiC 光电二极管用于 CCD 的线性化或用作参考探测器。SiC 光电二极管的辐射响应功能使其能够独立于 CCD 使用。辐射精度可以使用相应的光谱数据进行自动校正。因此,该设备可用于对非常微弱的信号进行快速测量,这使得 BTS20418-UV 非常适合集成到测角仪中。尽管尺寸紧凑(103 mm x 107 mm x 52 mm – 长 x 宽 x 高),但 BTS2048-UV 光谱辐射仪有一个遥控滤光轮,带有两个滤光片和一个用于暗测量的快门。


精确光谱辐射测量(低杂散光)

为了便于最佳地使用 CCD 传感器的动态范围并克服大多数阵列光谱辐射计在 UV 范围内的问题,在光束路径中放置了一个遥控滤光片轮(开放式、闭合式、滤光片)。该滤光片与智能测量和杂散光校正程序相结合,可实现 BTS2048-UV 的高质量测量。

BTS2048-UV 针对其他 UV 源的一般测量进行了优化。Gigahertz-Optik 的杂散光校准技术与进一步的智能测量程序相结合,可实现卓越的杂散光抑制。可根据要求选择校准 BTS2048-UV 附加杂散光校正矩阵。


绝对校准,绝对辐照度低至 200 nm!

多年的经验和设备齐全的 DAkkS 校准实验室 (D-K-15047-01-00) 使 Gigahertz-Optik 能够提供低至 200 nm 的可追溯校准。这拓宽了 BTS2048-UV 和 UV-C-LED 的应用范围。对于短波光谱范围,Gigahertz-Optik GmbH 实施了一种特殊的基于氘灯的校准策略。


用于前端和后端 LED 测试测量

BTS2048-UV 非常适合在工业应用中测试 UV 前端和后端 LED。其 CCD 检测器在触发测量之前集成了所有像素的电子零点设置功能(电子快门)。当测试 LED 在脉冲电流模式下运行时,电子快门和测量触发可以通过触发端口与电源同步。强大的微处理器只需 7 ms 即可通过快速 LAN 接口将完整的数据集传输到系统计算机。


直接安装,无需使用导光板

BTS2048-UV 光谱辐射仪具有扩散窗口,因此可用于测量紫外线辐照度,包括光谱和峰值波长,无需任何额外的附件组件。借助扩散窗口,BTS2048-UV 还可以直接安装在积分球、辐射镜和测角仪等附件上,以测量辐射功率、辐射度和辐射度分布。


用户软件和开发人员软件

标准的 S-BTS2048 用户软件具有可定制的用户界面,并提供大量的显示和功能模块,这些模块可以在使用 Gigahertz-Optik GmbH 的相应附件组件配置 BTS2048-UV 时激活。S-SDK-BTS2048 开发软件用于将 BTS2048-UV 集成到客户自己的软件中。


校准

光度测量设备的一个基本质量特征是其精确和可追溯的校准。BTS2048-UV 由 Gigahertz-Optik 的 ISO/IEC 17025 校准实验室进行校准,该实验室的光谱响应度光谱辐照度根据 ISO/IEC 17025 获得 DAkkS (D-K-15047-01-00) 的认可。校准还包括相应的附件组件。每台设备都附有相应的校准证书。

S-BTS2048 software for the BTS2048-UV

用于 BTS2048-UV 的 S-BTS2048 软件

Ethernet interface reduces the datatransfer time

以太网接口缩短了数据传输时间

Electronic Shutter reduces the measurement time

电子快门缩短了测量时间

规格:

常规
简短描述:紫外优化型 TE 冷却 CCD 光谱仪,具有宽动态范围,可用于连续波和短期测量辐照度、光谱和峰值波长。其他参数的附件。
主要特点:紧凑的设备。BiTec 探测器,带有背照式 TE 冷却 CCD(2048 像素,0.8 nm 光学分辨率,电子快门)和 SiC 光电二极管。光带宽校正 (CIE214)。带百叶窗和边缘滤镜的滤光轮。带扩散器窗口的输入镜头。余弦视野。
测量范围:3E-5 W/(m²nm) 至 3E4 W/(m²nm) @325nm。响应度从 190 nm 到 430 nm。
典型应用:用于设计应用的 CCD 光谱辐射仪。用于集成到前端和后端 LED 测试系统的模块。
校准:工厂校准。可追溯至国际校准标准
产品
典型应用:用于光谱辐照度、红斑等的测光表
测量数量:光谱辐照度 (W/(m² nm))、辐照度 (W/m²)、峰值波长、中心波长、质心波长、红斑。可选积分球:此外还有光谱辐射功率 (W/nm) 和辐射功率 (W)
输入光学元件:扩散器,余弦校正视野 (f2 ≤ 3 %)
滤光片转盘:4 个位置(开放式、闭合式、滤光片)。用于远程暗电流测量和杂散光减少。
BiTec:可以使用二极管和阵列进行并行测量,从而通过二极管对阵列进行线性校正,并通过 a*(s 在线校正二极管的光谱失配z(λ)) 分别为 F*(sz(λ))。
校准不确定度:光谱辐照度
λu(k=2)
(200 – 239) 纳米± 9 %
(240 – 339) 纳米± 6.8 %
(340 – 359) 纳米± 5 %
(360 – 399) 纳米± 4.3 %
(400 – 430) 纳米± 4 %

光谱辐照度响应度 (200 – 430) nm

测量模式:

标准测量模式:200 nm 至 430 nm

超出范围的杂散光校正测量模式 (OoR SLC):200 nm 至 430 nm

杂散光校正带通测量模式 (BP SLC):300 nm 至 386 nm

光谱检测器:

集成检测器:
测量时间:(0.1 – 6000) 毫秒
测量范围:七 (7) 个测量范围,具有卓越的偏移校正
校准:辐照度 ± 6 % *10
模数转换器:16 位
测量范围:可选:(5E-3 – 2E5) W/m² *11
滤波器:可选:对 220 nm 至 360 nm 的矩形函数的响应度进行数学调整(SMCF 使用测量的光谱数据对辐射函数进行在线校正)。

* 二极管的光谱响应度与矩形函数不对应(使用滤光片时无法实现)。当测量光谱偏离集成检测器校准光谱(UV LED,峰值为 405 nm)的光源时,使用 SMCF 校正测量结果。这种校正的不确定性取决于测量光谱的质量(噪声)和校正因子的大小(光谱范围)。

杂项:


Related posts