Sumix MAX-Quantum 干涉仪，白光干涉仪，可用于端面几何检测、异常检测和导孔平行度和角度测量

Sumix MAX-Quantum 干涉仪

MAX-Quantum是一款高端自动干涉仪，用于单次扫描中检测MTP/MPO, ST, FC, SC, LC, MU, E2000类型的单光纤和多光纤连接器以及MT, MT- RJ插针。 MAX-Quantum 干涉仪同时提供端面几何检测、异常检测和导孔平行度和角度测量。MAX-Quantum 干涉仪具有高光学分辨率，自动对焦和视场角范围广，每排可测试16根光纤。 Sumix MAX-Quantum 干涉仪主要特征： 2D和3D表面轮廓分辨率高：可以探测小至1.47 μm的表面细节。自动对焦：只需点击一下，可以最大限度地减少操作员的动作。结合异常检测和几何测试：快速检查，提高工作效率。快速测量：测量单光纤连接器1.4秒，测量多光纤连接器7秒。与固定装置兼容：克服MTP®/MPO测量中的电缆张力和套圈定位不确定性，并控制附加参数-导孔平行度和角度 MT16和MT32检验：掌握最新的市场技术。数据库连接：将所有本地站点的测量数据存储在一个地方，并轻松将Sumix设备集成到您的制造系统中业界领先的MaxInspect™自动检测软件：测量曲率半径，顶点偏移，纤维高度，芯倾角等。遵从行业标准：根据IEC, Telcordia或您自己的合格/不合格标准进行测试。 First slide

Sumix MAX-Quantum 干涉仪技术参数：

测量技术: 非接触式，迈克尔逊干涉仪镜头: NA = 0.22 照明: 绿色LED (530nm) 视场: 6.0 × 4.4 mm 横向分辨率: 1.47µm 放大倍数: 200x(数码变焦关闭) 聚焦: 自动和手动最大图像尺寸: 4096 × 3000像素

可匹配连接器/连接管(PC和APC): SC, FC, ST, LC, MU, E2000™, MTP®/MPO, MT16/32, MT-RJ, MT, SMA 显微镜模式: 是的测量模式: 相移和白光扫描计算时间（测量时间可能因计算机性能和连接器端面形状而异）：单光纤1.4秒; MT12/24 7秒; MT16为7.2秒; 异常检测MT24为7.57秒; MT72为10.4秒。测量范围: ROC (mm): 1至flat; 顶点偏移量(μm): 0 ~ 2000; 光纤高度* (μm):大于1000; 角度测量-全范围(度):0至28 可重复性C.F.: Roc: 0.9% (mt12);0.04% (SC / APC) 光纤高度:0.8 nm (MT12);0.1 nm (SC/APC) 角度:0.005度(MT12);0.0002度(SC/APC) 顶点偏移:0.04µm (SC/APC) 可重复性C.R. : Roc: 1.2% (mt12);0.05% (SC / APC) 光纤高度:1.1 nm (MT12);0.4 nm (SC/APC) 角度:0.01度(MT12);0.006度(SC/APC) 顶点偏移:1.0µm (SC/APC) Polarity, Continuity and Endface Inspection Solution for MPO patch cords

Polarity, Continuity and Endface Inspection Solution for MPO patch cords

Sumix MAX-Quantum 干涉仪系统需求：

Windows 10 Intel Core i7 4GB或更高内存内置英特尔USB 3.0控制器 Microsoft Excel 2010或更高版本 MAX-Quantum干涉测量系统包含: MAX-Quantum干涉仪光学平面标准用于设备校准 USB 3.0电缆 AC 适配器包装箱 MaxInspect™软件夹具和其他配件需另外订购

[pdfjs-viewer url="https%3A%2F%2Fwww.bihec.com%2Fsumix%2Fwp-content%2Fuploads%2Fsites%2F21%2F2024%2F04%2FMAXT-quantum-%E6%BF%80%E5%85%89%E5%B9%B2%E6%B6%89%E4%BB%AA-CH.pdf" viewer_width=100% viewer_height=1360px fullscreen=true download=true print=true]