土耳其 ATEK ALS 4 超薄机身光学线性秤安装式光学线性编码器线性测量紧凑型设计增量式光学系统

行程选项从 50 mm 到 1000 mm 增量式光学系统超薄外壳类型以 50 mm 为间隔的参考点分辨率低至 1 μm IP54防护等级测量速度为 60 m/min

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