Dataray工业激光监测系统ILMS、高分辨率聚焦成像、DataRay光束分析仪

高分辨率聚焦成像——高损伤阈值(最高可达1*千瓦)
工业激光监测系统ILMS专为分析高功率工业激光的聚焦光斑而设计。该系统结合了再成像/放大光学元件、保偏分束器以及DataRay光束分析仪,可测量微小光束腰(小至数微米),而传统分析系统在此条件下可能受损。通过放大聚焦光束,该系统能对低至微米级的光斑进行全像素逐点二维测量。

ILMS兼容大多数DataRay光束分析仪,并配备功能全面、高度可定制且以用户为中心的软件(无许可费用)。软件自动计算系统放大倍率,无需后处理或手动修正结果。

核心特点

  • 波长范围覆盖190 nm至16 μm

  • 可测光束腰直径低至数微米

  • 提供高放大倍率选项(50倍及以上)

  • 支持高功率激光(最高千瓦级)

  • 三组可切换滤光片实现灵活精细衰减

  • 分析仪可单独拆卸使用

  • 可选配校准针孔光圈

  • 集成功率计与光束捕集器(可选)

  • 提供无分束器版本(适用于低功率聚焦光束)

  • 集成功率计选项(详情咨询)

典型应用

  • 紧聚焦光束、光纤端面、边缘耦合器、激光二极管等

  • 高功率激光切割系统

  • 增材制造

  • 质量控制


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