DAEILSYSTEMS DVIA-M系列 内置主动隔振系统 主动隔振器 反馈控制算法 扫描电子显微镜 透射电子显微镜 扫描透射电子显微镜 扫描隧道电子显微镜

 

DVIA-M 系列

无噪声的纳米级成像

DVIA-M 是世界上最先进的内置主动隔振系统,集成在各种平台中,并用作电子显微镜内部的内置主动隔振系统。

亚赫兹隔振性能

DVIA-M 系列嵌入了最先进的主动振动控制算法,可在六个自由度下提供 1 Hz 时 50% – 80% 的隔振效果,在 2 Hz 时提供 90% 的隔振效果。

内置主动隔振系统

DVIA-M 主动隔振器设计为纳米级成像设备(如电子显微镜)的内置主动隔振系统

反馈和馈送控制算法

DVIA 系列使用反馈控制算法连续检测干扰隔离表面的振动,并立即做出反应以实时减少振动。DVIA 系列采用前馈控制算法,在地板振动传递到安装在主动隔振系统上的设备之前,提前过滤掉地板振动。

反馈和馈送 <br />控制算法

所有六个自由度的主动隔振

DVIA 系列控制三个平移度(X、Y 和 Z)和三个旋转度(俯仰、滚动和偏航)的振动。

DVIA-M-绝对振动控制全六自由度

1 Hz时隔振率为 50% – 80%≥≥2 Hz 时隔振率为 90%

DVIA-M 性能

应用

扫描电子显微镜透射电子显微镜扫描透射电子显微镜扫描隧道电子显微镜


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