台式主动隔振系统
DVIA-T 系列 让显微成像变得前所未有的轻松
DVIA-T 是全球最先进的台式主动隔振平台，专为隔离纳米级成像设备的低频振动而设计，可在 1 Hz 频率下实现 40%-80% 的隔振效果。
特征
1.卓越的隔振性能
DVIA-T 开始隔离 0.5 Hz，在 1 Hz 时提供 40% – 80% 的隔振。
2.这很简单。即插即用！
DVIA-T 只需要电力即可使用其主动隔振系统。
3.紧凑、轻便、便携的设计
最小的 DVIA-T 为 420 × 500 × 93 毫米，重量仅为 25 公斤，允许用户手提和安装在任何地方。
4.自动调平到有效载荷重量
如果环境和位置发生变化或放置其他仪器，用户只需按下自动调平按钮即可调整 DVIA-T 的级别。
5.无空气
所有 DVIA-T 都需要电流才能运行。
6.用户 UI 软件
我们为提供真正减少地板振动的隔振系统所做的工作感到自豪。
UI 软件与 DVIA-T 一起提供，供用户实时监控主动隔振性能和地板振动水平。
7.反馈和馈送控制算法
DVIA 系列使用反馈控制算法连续检测干扰隔离表面的振动，并立即做出反应以实时减少振动。DVIA 系列采用前馈控制算法，在地板振动传递到安装在主动隔振系统上的设备之前，提前过滤掉地板振动。
8.所有六个自由度的主动隔振
DVIA 系列控制三个平移度（X、Y 和 Z）和三个旋转度（俯仰、滚动和偏航）的振动。
性能
- 在 1 Hz 频率下可实现 40%～80% 的隔振效果
- 在 ≥2 Hz 频率下隔振效果 ≥90%
规格
| 型号 | DVIA-T45 系列 | DVIA-T56 系列 | DVIA-T67 系列 | DVIA-T78 系列 | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 平台尺寸（长 x 宽 x 高） | 420 x 500 x 93 毫米 | 500 x 600 x 93 毫米 | 600 x 700 x 95 毫米 | 700 x 800 x 95 毫米 | |||||||
| 最大负载能力 | 90 kg / 150 kg （可选） | ||||||||||
| 驱动器 | 电磁执行器 | ||||||||||
| 最大执行器力 | 垂直： 6 N， 水平： 3 N | ||||||||||
| 自由度 | 6 自由度 | ||||||||||
| 有源隔离范围 | 0.5 – 100 赫兹 | ||||||||||
| 1 Hz 时的隔振 | 40% – 80% | ||||||||||
| ≥2 Hz 时的隔振 | ≥90% | ||||||||||
| 输入电压 （V） | AC100-240V / 50-60Hz / 1A | ||||||||||
| 功耗 （W） | 小于 36 W | ||||||||||
| 工作范围 | 温度 （°C） | 5 – 50 °C | |||||||||
| 湿度 （%） | 20 – 90% | ||||||||||
应用
- 原子力显微镜 (Atomic Force Microscopy, AFM)
- 荧光显微技术 (Fluorescence Microscopy)
- 扫描探针显微技术 (Scanning Probe Microscopy, SPM)
- 三维光学显微技术 (3D Optical Microscopy)
- 纳米级分辨率光学显微技术 (Optical Microscopy with Nanometer Resolution)
- 数字全息显微技术 (Digital Holographic Microscopy)
- 触针轮廓测量术 (Stylus Profilometry)
- 干涉测量技术 (Interferometry)
- 表面粗糙度计量学 (Surface Roughness Metrology)
