美国Sumix MAX-QM+工业自动干涉仪,光学轮廓仪
美国Sumix MAX-QM+工业自动干涉仪,光学轮廓仪
Sumix MAX-QM+ 是一款自动干涉仪，用于检测 MTP®/MPO、ST、FC、SC、LC、MU、E2000™、SMA 类型的单光纤和多光纤连接器以及 MT、MT-RJ 套圈。
Sumix MAX-QM+ 测量速度快、设计便携、自动对焦和大视场，每排可测试 12 或 16 根光纤，这些都使 MAX-QM+ 成为大批量生产线中广受欢迎的解决方案。
Sumix MAX-QM+ 配备行业领先的 MaxInspect™ 软件，用于光纤连接器的干涉检测。
Sumix MAX-QM+工业自动干涉仪特征：1：高分辨率 2D 和 3D 表面轮廓
探索小至 2.2 μm 的表面细节。
2：自动对焦将操作员的操作降至最低，只需单击一下。
3：高达 5700 μm 的大视场
测量从导向孔到导向孔的连接器。
4：快速测量
测量多光纤连接器最快只需 3 秒。
5：与创新的侧视+前视灯具兼容
克服 MTP®/MPO 测量中的电缆张力和套圈定位不确定性，并控制其他参数 - 导孔、平行度和角度。
6：MT16 和 MT32 检验
紧跟最新的市场技术。
7：符合人体工程学的夹具设计
通过轻松插入套圈/连接器和夹具处理来节省时间。
8：数据库连接将所有本地站点的测量数据存储在一个地方，并轻松地将 Sumix 设备集成到您的制造系统中
MAX-QM+ 干涉测量系统包括：- MAX-QM+干涉仪
- 用于设备验证的光学平面标准
- USB 3.0 数据线
- AC适配器
- 内六角扳手
- 箱
- MaxInspect™ 软件许可证
Sumix MAX-QM+ 规格
测量技术：非接触式;迈克尔逊干涉测量法
镜头：NA = 0.15;平坦度误差 < λ/50
照明 灯：绿色 LED （530 nm）
视场角：5.6 × 4.2 毫米
横向分辨率：2.2微米
放大：100×（数码变焦关闭）
重点：自动和手动
最大图像尺寸：2590 × 1940 像素
最适合连接器/套圈（PC 和 APC）：MTP®/MPO、MT、MT16/32、MT-RJ、SMA、SC、FC、ST、LC、MU、E2000™、MIL 规格终端
显微镜模式：不是
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