DeFelsko Corporation 美国DeFelsko测厚仪FNS1

复合型，分离式探头，可测铁性基材上的非磁性图层和有金属上的绝缘涂层的厚度。 量程：0-1500微米 精度：±(1 um + 1%读数) 0 – 50 um ±(2 um + 1%读数) > 50 um
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