Crytur 单晶检测单元电子显微镜闪烁体石英玻璃蓝宝石光导

Crytur 单晶检测单元电子显微镜闪烁体石英玻璃蓝宝石光导

电子显微镜检测单元

用于电子显微镜单晶检测单元单晶闪烁体的闪烁特性与光导相结合

Crytur 单晶检测单元电子显微镜闪烁体石英玻璃蓝宝石光导关键属性

我们生产和交付一系列基于我们自己独特的闪烁材料的检测和成像装置

  • 非常好的发光效率
  • 无限的使用寿命
  • OEM生产、测试和认证

显微镜检测单元的生产范围包括扫描 (SEM) 和透射 (TEM) 电子显微镜探测器

Crytur 在设计和开发方面与客户密切合作,还可以根据定制商的需求提供特殊的探测器设计。

Crytur 还提供 SEM 升级解决方案。请参阅 REBEKA™ 以了解有关带有读出电子设备的电动真空检测系统的更多信息。

光导

Crytur 为不同的探测器和检测单元生产多种类型的导光板。根据闪烁材料和应用,使用多种原材料:

可根据要求使用其他材料。

 

设计选项

SEM 探测器
SE(二次电子)检测
  • 平面闪烁体
  • 圆锥形几何体(更高的光输出)
  • 在光纤上(小型化)
 SE-detectors.png
BSE(反向散射电子)检测
  • 环形的
  • 分段
  • 镜头内(小光圈低至 0.3 mm)
 BSE-detectors.png
CL(阴极发光)
  • 在任何工作距离下工作的通用石英光导
  • 抛 物 型
 CL-detector.png
TEM 探测器
STEM检测器
  • ADF
  • 民生部队
  • 高炉
 ADF-detector.png
TEM 探测器 TEM-detector.png

闪烁体涂层选项

检测闪烁体表面涂有涂层,以防止充电,增加光输出并保护闪烁体表面。

导电涂层

  • Al(用于遮光涂层、检测面)
  • ITO(检测表面,高耐化学性和机械性)
  • CRYTUR低能耗镀膜(500V开始检测)

高反射率/抗反射/保护

  • Al(高反射率)
  • ITO(内部全反射,机械阻力
  • Au(止动层)
  • MgF2(抗反射)


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