德国CrysTec GmbH 半导体材料硅/锗晶片和衬底 II-VI- 半导体

标准：
尺寸：10×10平方毫米，Ø30毫米
厚度：0.5毫米、1毫米
方向：（100）（111）（110）
硫化锌
晶格常数：0.541纳米
硒化锌
晶格常数：0.567纳米
ZnTe-锌碲化物
晶格常数：0.610纳米
-部分来自库存
-根据要求提供其他格式
-也是单件

硫化镉
晶格常数：a=0.414纳米
c=0.672纳米
硒化镉
晶格常数：a=0.430纳米
c=0.701纳米
碲化镉
晶格常数：a=0.648纳米