美国Brimrose在线近红外光谱仪,Luminar 4020 薄膜测量分析 AOTF-NIR 光谱仪

Luminar 3070 实验室 AOTF-NIR 光谱仪

薄膜或涂层在线测量

Luminar 4020 AOTF-NIR 薄膜光谱仪旨在单独测量多层薄膜,无需测量基材厚度以获得准确的涂层重量。这种高速在线分析仪可以定期测量粘合剂和残留溶剂的涂层重量,该分析仪可以安装在钢丝圈上并扫描整个卷材,也可以静态测量。

Brimrose Luminar 系统是非接触式固态传感器,具有紧凑、坚固的设计,可为苛刻的工业用途提供快速的全光谱扫描。集成的 Luminar 4020 对环境光完全不敏感,不受振动、灰尘和污垢的影响,这简化了生产环境中的安装要求。光学设计消除了干涉条纹,现在可以使用此在线光谱仪测量薄膜。

技术规格:

光谱范围选项600-1100 纳米、850-1700 纳米、900-1800 纳米、1100-2300 纳米
测量模式传播
光谱分辨率2-10纳米
波长精度± 0.5 纳米
波长重复性± 0.01 纳米
波长增量软件可选 1-10 nm
环境光抑制> 10 6
非线性0.1%
信号数字化16 位 A/D(65,536 分之一)
采样速度16,000 波长/秒
采样区Ø10 毫米
工作距离6 mm ± 0.5 mm(从反射面到窗缘)
诊断10个内置监控传感器
厚度范围典型 0-15 μm(标准);(超过 15 μm 可以使用型号 4030 和 7030)
允许的片材颤振±5 毫米和 ±2 度
电源要求24 VDC,80 瓦或 100-240 VAC,50/60 Hz,90 瓦
冷却选项风扇冷却,涡流冷却
沟通无线、OPC UA、Modbus(串行或 TCP)、4-20mA 的 I/O、TCP/IP 以太网
外壳(宽 x 高 x 深)275 毫米 x 372 毫米 x 157.50 毫米

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