薄膜测量分析

BRIMROSE 高速 AOTF-NIR 薄膜分析仪以极高的精度在线执行实验室任务。为了优化生产过程，该仪器可以放置在对薄膜或涂层进行精确分析监测很重要的生产线中。该仪器可用于在线规格验证，薄膜或纸上单层或多层涂层的涂层厚度测量，分析和评估涂层或薄膜的化学成分，监测残留溶剂，固化时间等。

AOTF-NIR 薄膜分析仪对环境光完全不敏感，不受振动、灰尘和污垢的影响，设计用于在生产环境中可靠工作且无需维护。一种新颖的光学设计使薄膜或涂层的测量成为质量控制和减少浪费的一种经济有效的方法。

Brimrose AOTF-NIR 光谱仪的优势：

•非接触式固态传感器采用紧凑、坚固的设计，为要求严苛的工业用途提供快速全光谱扫描
•安装在钢丝圈上并在网上扫描或可用于统计现场测量
•与主工厂 PLC 或 DCS 连接以进行即时和/或自动过程调整
•大量节省实验室分析

Brimrose Luminar 4020 薄膜分析仪永久安装在自动导轨上，用于整个网络的薄膜和涂层厚度分析。

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