Beam Imaging Solutions 离子枪系统 G-1/ G-2

产品概述

Beam Imaging Solutions(BIS) 提供两种类型的 离子枪系统。每套离子枪系统均包含以下组件:

所有组件均安装在真空壳体内,并配有法兰以便安装到客户设备上。护环控制单元可安装在标准 19 英寸机架面板中。如有需要,可订制特殊法兰和额外接口

当离子枪需要配置束流减速器时,将提供一个适配法兰(型号 G-1-DG-2-D 离子枪)。
此外,Beam Imaging Solutions 还为上述离子枪系统提供 E 系列控制单元,其中包含:

  • 离子枪运行所需的全部电源

  • 离子源冷却单元

  • 真空计控制系统

所有离子束组件也可单独购买或作为完整套件提供(包括离子源、散热器、速度过滤器、提取与聚焦透镜系统)。这些完整套件被称为 Ion Beam Kit(离子束组件套装

技术参数规格说明
分辨率 (Resolution)M/D M ≈ 400
离子电流 (Ion Current)聚焦状态最高 20 μA;非聚焦状态最高 100 μA
离子源(直流 DC)灯丝:16 V / 20 A;阳极:0–150 V / 0.4 A
离子源(射频 RF)0–500 W,13.56 MHz
透镜系统 (Lens System)加速电压:0–10 kV,1 mA;聚焦电压:0–10 kV,0.5 mA
垂直偏转极板 (Vertical Deflection Plates)0–400 V,1 mA
速度过滤器磁体 (Velocity Filter Magnet)G-1:9.5 V / 3 A;G-2:28 V / 14 A(连续运行)
速度过滤器偏转极板 (Velocity Filter Deflection Plates)0–350 V,50 mA(浮地输出)
适用型号 (Model)G-1、G-1-D、G-2、G-2-D