Beam Imaging Solutions BOS(光束观测系统)BOS(光束观测系统)
带有荧光屏式成像组件的组合微通道板(MCP)可单独提供,或集成到带视口的标准尺寸真空法兰中,以便快速轻松地分析电子、离子和中性束以及 X 射线和紫外线的轮廓分析。
BOS-18-IW型
Beam Imaging Solutions (BIS)引入了90 度 BOS,允许对与成像平面 90 度角的光束进行远程成像。BOS-18-IW 可以连接到线性运动馈通件上,并放入和输出光束,从而在真空室深处进行远程成像。
产品概述
Beam Imaging Solutions (BIS) 引入了 90 度 BOS,允许对与成像平面成 90 度角的光束进行远程成像。BOS-18-IW 可以连接到线性运动馈通件上,并放入和输出光束,从而在真空室深处进行远程成像。成像是通过将标准 BOS MCP/荧光粉屏幕堆栈安装到金属外壳上来完成的,该外壳的镜子相对于成像平面成 90 度安装。外壳呈楔形,以最大限度地减少成像仪的物理尺寸,并具有方便的点,可连接到线性运动馈通件。
电气连接是通过将柔性电绝缘电线连接到楔块上的电馈通连接块上来进行的。在标准形式中,BOS-IW 装置可将 MCP/荧光粉组件安装在带有电气连接块的楔形外壳上。还提供 BOS-IW 套件,包括带有电馈通、视口、线性运动馈通和摄像头系统的 BOS-IW 单元。
可选设备
双 MCP 系统、MCP 涂层和 MCP 类型:
- BOS-18-IW 型,带 BOS-18-IW-OPT-01 双 MCP 选项
- 带有可选涂层的 MCP,用于增强紫外线和 X 射线(KBr、CsI、Cu、CuI、MgO、Au、MgF2)的成像
- 具有高增益和分辨率的 MCP
- 具有匹配特性阻抗的MCP
- 线性运动馈通件、电气馈通件、视口(请联系 BIS 了解更多信息)
- BOS-18-IW 带有可选的线性运动馈通和光束衰减网格

荧光屏
- P-43 是标准配置,但也有其他荧光粉可供选择,包括 P1、P11、P15、P20、P22、P24、P31、P45、P46、P47、P48 和 P53。有关更多信息,请参阅我们的荧光屏页面。筛网有标准的铝涂层,但也提供氧化铟锡(ITO)底漆。
图像处理系统(可选)
- IPS-1 型(图像采集卡(PCI 总线)、电缆、软件)
电源(可选)
- MCPPS-1 型(MCP 电源,单 MCP,0-1kV)
- MCPPS-2 型(MCP 电源,双 MCP,0-2kV)
- PHSPS-1型(荧光屏电源,0-5kV)
杂项选项
- 波束衰减网格(90%、99%、99.9%)
- 在确定所需的衰减网格数量时,请使用以下标准:
- 离子束大于 3.2 nA/mm2,90% 束衰减(1 个网格)
- 离子束大于 31.8 nA/mm2,99% 的离子束衰减(2 个网格)
- 离子束大于 318.nA/mm2,光束衰减 99.9%(3 个网格)
- 电子抑制栅格