Mikropack GmbH NanoCal-2000 Film Thickness Gauge 膜厚仪

膜厚仪（反射谱仪NanoCal-2000） Film Thickness gauge(Reflection spectrometer NanoCal- 2000) 指标特点 测量范围： 10nm-250μm 重复率 0.3nm 光斑大小： 200-800μm 波长范围： 250-1100nm 波长分辨率： 1nm 可测量层数： <=3 测量速度： 100ms-1s 样品台机械容差： 高度：无需 角度：+/_1度
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