土耳其 ATEK ALS 4 超薄机身光学线性秤 安装式光学线性编码器 线性测量 紧凑型设计 增量式光学系统
行程选项
从 50 mm 到 1000 mm 增量式光学系统
超薄外壳类型
以 50 mm 为间隔的参考点
分辨率低至 1 μm
IP54防护等级
测量速度为 60 m/min
- 使用具有光学操作原理的玻璃尺进行非常精确的测量
- 超薄外壳类型，具有单密封或双密封保护
- 低至 1 μm 的高分辨率选项
- 采用 5 滚珠轴承系统的稳健转向
- 易于组装
- 行程选项从 50 mm 到 1000 mm
- 以 50 mm 为间隔的参考点
- 测量速度能力为 60 m/min
