借助 Omni 3，您可以利用先进的技术实现超高速、超精密的检测。Omni 3 经过精心设计，可提供最先进、最直观的数码显微镜体验之一。强大的嵌入式软件可以在没有 PC 的情况下处理复杂的成像任务。该检测系统经过定制设计，可提供最大功率。
技术规格
| 放大倍率范围 | 2.5 – 658 （光学） 69d – 1317d （数字） 具体范围以配备镜头为准 |
|---|---|
| 相机分辨率 | 1920 x 1080 像素 |
| 监控连接 | HDMI / DVI |
| 显示器要求 | HD Ready / Full HD（推荐） |
| 输入/输出 | HDMI 输出 USB 2.0（x4 端口） 迷你 USB 端口 通用 IO（x3 端口） 直流电源插孔 24V |
| 内部存储 | 16GB |
| 图像捕获 | 内部存储 可移动 USB 图像存储 USB On the Go（PC 连接） |
| 功耗 | 24瓦 |
| 尺寸 | 216 毫米 x 125 毫米 x 136 毫米 |
| 重量 | 1.5 千克 |
| 工作温度 | 储存温度 10°C 至 60°C 工作温度 5°C 至 40°C |
构建您独特的 Omni 解决方案
选择您需要的应用程序，以根据您的特定要求定制 Omni 3。我们的应用程序范围从帮助满足关键制造公差的高级测量工具，到确保最高生产质量的比较工具。
2D测量和刻度应用程序
直观的屏幕全 2D 专利测量应用程序。点对点、直径、角度、可调节的 X-Y 网格、形状和注释特征，以适应多种样品规格。刻度创建允许根据屏幕上的数字模板对样品进行分析，并设置了公差限制。它还支持快速通过/不通过缺陷分析。Z 高度测量应用程序
在新的 Omni 3 上进行 3D 测量。现在，除了 X 轴和 Y 轴之外，您还可以在 Z 轴上进行测量，从而将 Omni 3 功能提升到一个全新的维度。与过时的手动检测方法相比，快速检测零件的速度提高了五倍。DXF 导入和导出应用程序
导入一系列 DXF 文件以创建用于与零件进行叠加比较的经纬网。导入的 DXF 文件可以在 Omni 3 系统上进行编辑和注释。Image Stacking 应用程序
查看同时聚焦不同图层的样本。Omni 会自动以不同的焦深捕获 2 到 12 张图像，并根据每个单独捕获中最清晰的区域创建图像。Image Comparator 并排应用程序
以分屏的形式直观地将您的实时样品与存储的主图像进行比较。通过注释添加注释并保存比较图像以供文档和可追溯性。能够快速识别金样品和测试样品之间的差异。Image Comparator Overlay 应用程序
创建主图像的图像叠加，通过将实时样品图像与存储的主图像叠加和闪烁来识别缺陷。能够快速识别金样品和测试样品之间的差异。颜色分析应用程序
先进的算法可自动计算任何样品的颜色值。识别样品中的污染物或异物。消除人为错误，将产量提高多达 50%。可以生成报告，以便于记录和追溯。对象计数应用程序
自动识别并计算您感兴趣区域内的对象数量。将效率提高 70%，同时消除人为错误。无需手动计算零件数量，同时减少昂贵的开销，从而显著缩短检测时间。报告生成快速简单，便于记录和跟踪。API 应用程序
API 是一个命令集，用于促进 Omni 3/Inspex 3 数码显微镜与其他系统或应用程序之间的通信。它支持数据交换、控制和定制，有助于标准化对系统功能和数据的访问。API 增强和扩展了 Omni 3/Inspex 3 数码显微镜的功能，确保针对特定需求进行优化。
