IF-Profiler 光学表面光度仪
Optical profilometer for roughness measurement用于粗糙度测量的光学轮廓仪
Optical profilometer for profile based and areal based roughness measurements
用于基于轮廓和基于面的粗糙度测量的光学表面光度仪
IF-Profiler是一个手持式3D粗糙度测量系统，用于高分辨率测量表面光洁度。用户可以使用同一系统测量平坦和曲面组件的粗糙度。测量既可以基于轮廓（ISO 4287）进行，也可以基于面积（ISO 25178）进行。
轻巧的IF-Profiler由一个3D测量传感器和一个坚固而方便携带的框架组成。符合人体工程学设计既简单易用又具有必要的机械刚度。在最短的三秒测量时间内实现可追溯和可重复的测量。
技术规格：
| 测量原理 | 非接触、光学、三维、基于焦距变化 |
| 定位体积(Z) | 25毫米(Mot) |
| 物镜放大率 | x10 | x20 | x50 | |||||||
| 焦点距离 | 毫米 | 17.5 | 16 | 10.1 | ||||||
| 横向测量范围(X，Y) | 毫米 | 2 | 1 | 0.4 | ||||||
| (X x Y) | 毫米 | 4 | 1 | 0.16 | ||||||
| 垂直分解度 | 纳米 | 100 | 50 | 20 | ||||||
| 量滴可测粗糙度(Ra) | m | 0.3 | 0.24 | 0.18 | ||||||
| 量滴可测粗糙度(Sa) | m | 0.15 | 0.12 | 0.9 |
Alicona Imaging Automatic cutting tool measurement system Bruker Cobot Edge Master EdgeMasterHOB EdgeMasterX IF-Profiler IF-SensorR25 InfiniteFocus G6 InfiniteFocusSL PortableRL µCMM 光学3D测量仪 光学3D测量系统 光学三维测量传感器 光学坐标测量机 光学测量传感器 光学测量机 光学表面光度仪 光学表面粗糙度测量 & 形状测量 刀具测量系统 坐标测量系统 奥地利Alicona Imaging GmbH 形状和光洁度的三维测量系统 手持式3D粗糙度测量系统 移动3D测量系统 自动刀具测量系统
