可变光子时延系统（SLTD）
可变光子时延系统（SLTD）是一款基于光纤的即用型交钥匙解决方案，提供光纤输入和输出的真时延，时延长度可达毫秒级，超快开关速度低至 10 ns，分辨率高达 25 位。该系统通过将光信号路由至内部光纤环路的组合来数字式调节时延，性能可根据用户需求定制。提供三种光开关类型——MEMS（毫秒级）、CL（毫秒级）和 NS（纳秒级）——以满足不同速度需求。色散补偿光纤确保在高射频频率下的信号保真度，而集成放大功能可平衡长路径中的光损耗。SLTD 配备 USB/GUI 和 RS232 接口，可选 TTL 控制和前面板触摸屏。该系统为雷达测试、信号处理、相控阵校准和相位噪声评估提供了无与伦比的灵活性和性能，优于传统的同轴线或波导方案。
特点
可选开关类型
更小尺寸和更轻重量
0.1 – 40 GHz 带宽
平坦相位响应
最小三次渡越回波
低链路损耗选项
低温度敏感性
应用
雷达系统测试
相控阵天线
信号处理
电子战（EW）系统
规格
| 参数 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 单位 | |
|---|---|---|---|---|---|
| 中心波长 | 750 | 1550 | nm | ||
| 波长范围 | ±50 | nm | |||
| 时延范围 | 0.01 | 7000 | µs | ||
| 时延精度 [1] | 0.1 | 1 | ns | ||
| 时延增量 | 0.1 | ns | |||
| 时延分辨率 | 20 | 25 | Bit | ||
| 系统固有时延 [2] | 100 | 200 | ns | ||
| 时延切换速度 | MEMS | 10 | ns | ||
| CL | 50 | 100 | µs | ||
| NS | 0.1 | 0.3 | µs | ||
| 串扰（开关通断比） | MEMS | 50 | 60 | 70 | dB |
| CL | 45 | 50 | dB | ||
| NS | 30 | 35 | dB | ||
| 重复频率 | MEMS | 10 | Hz | ||
| CL | 2 | kHz | |||
| NS | 1 | MHz | |||
| 插入损耗 [3] | 0 | 待定（TBD） | dB | ||
| 插入损耗均匀性 [4] | 0.5 | 1 | dB | ||
| 回波损耗 [4] | 50 | dB | |||
| 光功率承受能力 | 100 | 500 | mW | ||
| 工作温度 | 0 | 60 | °C | ||
| 存储温度 | -40 | 85 | °C | ||
| 电源 | 110 | 240 | VAC | ||
| 功耗 | 250 | W | |||
| 尺寸 | 19英寸机架式安装 |
注释：
[1] 定义于最大时延 ≤ 10 µs 时。
[2] 取决于位数 N，例如 19 位时固有时延为 100 ns。
[3] 损耗可通过光放大器进行补偿。
[4] 在相同位时延环路下，比较延迟状态与旁路状态时的数值。
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