ZENITH 共焦测量系统控制器
Zenith 控制器是用于非接触式共聚焦测量的下一代解决方案。与共焦笔配合使用，Zenith 控制器可以在激光难以承受的表面上进行无与伦比的精度测量。根据所选的共聚焦笔，Zenith 控制器可以进行误差低至 +/- 35 纳米的测量。新的双通道版本可以支持两个笔，用于同步、同步测量，非常适合厚度应用。
用于测量所有材料的位移、距离、位置和厚度的共焦传感器
共聚焦位移传感器满足最苛刻的尺寸、厚度或粗糙度测量应用的要求。这些传感器可以测量任何类型的样品（透明、不透明、抛光或粗糙）和任何类型的材料（金属、玻璃、陶瓷、半导体、塑料）。
主要作用：
- 系统控制与数据处理： 控制系统的各个部件，如光源、扫描系统、探测器等，并进行数据采集与处理。
- 实时监测与校准： 实时监测测量过程中的各种参数，并进行系统校准以确保测量精度和稳定性。
- 接口与通信： 提供与计算机或其他控制系统的接口，方便用户通过软件界面进行控制和数据分析。
这种控制器通常用于高精度工业测量、材料科学研究、生物医学成像等领域。
