美国Stanford research SRS SR715 LCR METER,LCR测试仪

美国Stanford research SRS SR715 LCR METER,LCR测试仪

Stanford research SR715 和 SR720 LCR 测试仪

SR715 LCR 和 SR720 LCR 表测量无源元件的误差低至 0.05%。这些易于使用的仪器可以快速设置、调整和校准。SR715 和 SR720 非常适合进货检验、质量控制、自动化测试和一般工作台使用等应用。

前面板显示

5 位 LED 显示屏显示测量值、输入的参数、仪器状态和用户消息。进行测量时,主要参数(L、C 或 R)显示在左侧显示屏上,相应的次要参数(Q、D 或 R)显示在右侧显示屏上。

进行测量

可以在 100 Hz、120 Hz、1 kHz、10 kHz 和 100 kHz(仅限 SR720)的测试频率下执行测量。内置驱动电压可以设置为预设值(0.1、0.25 和 1.0 V)或在 0.1 至 1.0 V 之间以 50 mV 的增量进行调整。

以每秒 2、10 或 20 个样本的速率进行测量。连续读数可以取 2 到 10 次的平均值,以提高准确性。支持组件的串联或并联等效电路模型。电容器测量使用内部 2.0 VDC 偏置或高达 40 V 的外部直流电源。

操作简单

SRS SR715/720 的强大功能和灵活性并未以牺牲易用性为代价。方便的 AUTO 测量模式可自动选择设置参数,并快速确定适用于任何被测组件的合适设备型号。最多可将九种仪器设置存储在非易失性存储器中,以便日后快速调用。

贴片镊子

校准方便

SR715 和 SR720 使补偿引线阻抗和杂散夹具和电缆电容变得简单。零点校准程序会自动校正所有频率和所有范围内的开路和短路参数。

分级

STANFORD RESEARCH SR715 和 SR720 具有有助于组件分类的内置功能。这对于生产测试、进货检验、设备匹配或当您需要测试多个具有相似价值的设备时特别有用。仪表允许您将组件分类到多达十个不同的容器中。

SR715 和 SR720 支持三种类型的合并方案:通过/失败、重叠和顺序。Pass/Fail 只有两个 bin;好的零件和其他一切。重叠(或嵌套)的箱子有一个标称值,并被分类到逐渐变大的箱子中(例如,±1%、±2%、±3%)。顺序箱可以具有不同的标称值,每个标称值由百分比或标称值和不对称限制分隔。分档参数也很容易存储在非易失性 RAM 中,以便在生产环境中快速设置。

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