美国ETP ,测厚仪, REED R7800 涂层测厚仪

美国ETP ,测厚仪, REED R7800 涂层测厚仪

该涂层测厚仪专为非侵入式涂层厚度测量而设计。R7800 具有零点或两点校准、用户可调的高/低警报和 USB 接口,可在随附的软件中进一步分析结果。 特征 REED R7800 包含的内容

REED R7800 的理想应用

规格
测量范围 0 至 1250μm 0.1 至 49.2mils
准确性 0 至 1250μm: ±3% +1μm 0 至 49.21mils: ±3% +0.04mils
分辨率 0 至 99.9μm: 0.1μm 100 至 1250μm: 1μm 0 至 4.99mils: 0.01mils 5.0 至 49.2mils: 0.1mils
测量模式 单一和连续
显示 4 位彩色 LCD 显示屏
分辨率 320 x 240 像素
背光显示器 是(5 个级别)
最小/最大/平均读数 是的
最小曲率半径 5 毫米 (196.85mils)
最小面积直径 20 毫米 (787.40mils)
最小基板厚度 0.5 毫米 (19.69mils)
自动关闭 是(5 分钟后)
低电量指示灯 是的
电源 2 节 AA 电池
内部存储器 是(最多 500 个组)
PC 连接 USB 数据线
软件 是的
产品认证 CE
刷新率 0.5 秒(连续模式)
工作温度 32 至 104°F(0 至 40°C)
储存温度 -4 至 140°F(-20 至 60°C)
工作湿度范围 ≤80%相对湿度
尺寸 5.9 x 2.6 x 1.38 英寸(152 x 65 x 35 毫米)
重量 6.35 盎司(180 克)

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服务优势

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