土耳其 ATEK OLC 43X 安装式光学线性编码器线性测量紧凑型设计增量式光学系统

行程选项从 50 mm 到 1000 mm 增量式光学系统超薄外壳类型以 50 mm 为间隔的参考点分辨率低至 1 μm IP54防护等级测量速度为 60 m/min

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