Sinton Instruments WCT-120TS-温度依赖性寿命测量仪

Sinton Instruments WCT-120TS-温度依赖性寿命测量仪 对载流子复合寿命随温度变化的关系进行校准分析的硅片测试仪 WCT120TS变温测试仪器包含了wT-120仪器独特的测量和分析技术的同时,又增加了温度变化功能,可以测试硅片在25°C到200°C温度范围内载流子的复合寿命。使用 Sinton Instruments公司开发的准稳态光电导( QSSPC)寿命测量方法,或瞬态光电导衰减方法测试硅片寿命 主要应用: 测量一定温度范围内硅片中的载流子复合寿命 其他应用

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Sinton Instruments WCT-120TS-温度依赖性寿命测量仪

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