英国Ossila-Four-Point Probe-四点探针，用于快速测量材料的薄层电阻、电阻率和电导率
Four-Point Probe-四点探针
Ossila四点探针系统是一种易于使用的工具，用于快速测量材料的薄层电阻、电阻率和电导率。
以高规格制造
Ossila源测量单元就其核心而言，Ossila四点探针是一种低成本系统，允许宽测量范围。探头使用弹簧接触代替尖针，防止损坏精密样品，如厚度在纳米量级的聚合物薄膜。价格包括一个四点探针、内置源测量单元、易于使用的PC软件和ITO涂层玻璃基板。
Ossila四探针系统通过三个特征降低了损坏精密薄膜的可能性。用于接触的探针具有圆形尖端(不像其他探针那样像尖针)。这些圆形尖端的半径为0.24毫米，使探针比针具有更大的接触表面积，因此分散了施加在样品上的向下的力。这些探针是镀金的，并安装在弹簧上，以促进电接触而无需过度的力，因为这使它们能够在与样品接触时缩回到探针头中，以确保施加60克的均匀力。探头的示意图如下图所示。
四点探针测量规格
| 电压范围 |
100 μV至10 V |
| 电流范围 |
1 μA至200 mA (5个范围) |
| 薄层电阻范围 |
100mω/□至10mω/□(每平方欧姆) |
| 薄层电阻 |
准确性* |
精度** |
在范围内测量 |
| 100mω/□ |
8% |
3% |
200毫安 |
| 1 Ω/□ |
2% |
0.5% |
200毫安 |
| 10 Ω/□ |
1% |
0.5% |
200毫安 |
| 100 Ω/□ |
1% |
0.05% |
20毫安 |
| 1kω/□ |
1% |
0.03% |
20毫安 |
| 10kω/□ |
1% |
0.02% |
2000年 |
| 100千欧/□ |
2% |
0.05% |
200安 |
| 1mω/□ |
8% |
0.5% |
20安 |
| 10mω/□ |
30% |
5% |
20安 |
*精确度是与真实值的最大偏差。
**精度是相同测量值之间的最大偏差(用于比较测量)。
物理设备规格
| 探针间距 |
1.27毫米 |
| 矩形样本大小范围 |
长边最小:5毫米短边最大:60毫米 |
| 圆形样品尺寸范围(直径) |
5毫米至76.2毫米 |
| 最大样品厚度 |
10毫米 |
| 总尺寸 |
宽:145毫米高:150毫米深:240毫米 |
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