UHV表面科研系统：多探针分析系统
除了表面分析组件外，LK Technologies还专门设计和构建完整的特高压系统，这些系统通常结合了LK组件和其他制造商的多种表面分析方法。 这些系统的常见元件是精密UHV室，主泵（通常是离子泵），辅助泵（通常是涡轮分子），精密样品操纵器，安装框架和真空计量。客户通常要求的可选组件是快速样品引入系统（加载锁定）和烘烤控制。 请联系LK获取更多信息，并讨论您的自定义系统要求。多探针分析系统是全球实验室提供的一个例子： 多探针分析系统，包括XPS分析，X射线单色仪，半球形分析仪，AES，ISS，多通道HREELS和带有快速样品加载系统的完整样品制备室。
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