奥地利Alicona Imaging GmbH-坐标测量系统µCMM-Optical coordinate measuring machine to measure tight tolerances测量精密公差的光学坐标测量机
µCMM
Optical coordinate measuring machine to measure tight tolerances
测量精密公差的光学坐标测量机
光学坐标测量机(CMM ),以最高精度测量大型部件上的小表面细节
CMM是第一台纯光学坐标测量机，用于高精度测量极其精密的公差。用户结合了触觉坐标测量技术和光学表面计量的优势:- 仅用一个传感器测量尺寸、位置、形状和粗糙度
- 整个测量范围内的高精度
- 具有焦距变化的非接触光学坐标测量
- 适用于哑光到高度抛光的部件
- 易于操作
- 无磨损，坚固耐用，适合生产
光学测量机提供多个光学3D测量值之间的高几何精度，能够测量大型部件上的小表面细节，并精确确定这些单独测量值之间的相对位置。可测量表面的范围包括所有常见的工业材料和复合材料，如塑料、PCD、CFRP、陶瓷、铬、硅。
简单的操作通过单按钮解决方案、自动化和人体工程学控制元素(如专门设计的控制器)来实现。线性驱动的空气轴承轴可实现无磨损使用和高精度、快速测量。这使得μCMM成为永久使用的理想坐标测量系统，在生产中也是如此。
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