Harrick 布儒斯特角支架 BXH-S1G 布儒斯特角样品架

Harrick 布儒斯特角支架 BXH-S1G允许使用透射光谱在不同角度测量薄膜。这种测量用于从所得干涉条纹中提取膜厚度和折射率数据。 Harrick 布儒斯特角支架 BXH-S1G还消除了干涉条纹，这些干涉条纹通常会遮挡弱吸收带。当与偏振器一起使用并以布鲁斯特角定位时，p偏振光以最小的反射透过表面。 Harrick 布儒斯特角支架 BXH-S1G主要特点： 以布儒斯特角或FT-IR或UV-VIS光谱仪所需的任何其他角度安装薄膜。 准确设置和读取入射角的刻度盘。 可选支架可用于UV-VIS光谱仪。 与Harrick Scientific的高效线栅偏振器和格兰泰勒偏振器兼容。 Harrick 布儒斯特角支架 BXH-S1G包括： 布鲁斯特角样品架。 一个样品支架。 滑动板支座。 [pdfjs-viewer url="https%3A%2F%2Fwww.bihec.com%2Fharrick%2Fwp-content%2Fuploads%2Fsites%2F173%2F2023%2F06%2FBXH-S1G-%E5%B8%83%E5%84%92%E6%96%AF%E7%89%B9%E8%A7%92%E6%A0%B7%E5%93%81%E6%9E%B6-CH.pdf" viewer_width=100% viewer_height=1360px fullscreen=true download=true print=true]  

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