美国DATARAY PPBS-UV-FS保偏光束采样器,激光光束质量分析系统
美国DATARAY PPBS-UV-FS保偏光束采样器,激光光束质量分析系统 美国DATARAY 生产两种类型的扫描狭缝光束分析仪：BeamMap 系列，提供实时 M²、发散、聚焦和对准管理，以及 Beam'R 系列， 紧凑且精确的光束分析，所有的狭缝扫描光束分析仪均配备 Si、Ge 和 InGaAs 探测器，覆盖波长从 190 nm 到 2500 nm。
美国DATARAY高功率光束采样器，带 SM1 螺纹、双楔块、偏振不敏感
Dataray保偏光束采样器 (PPBS) 使用双楔形设计对激光束分析应用中一小部分光束功率进行采样。PPBS 对两个正交楔形窗口的反射进行采样，以安全地降低高强度光的功率，同时保留输入光束的原始偏振并消除每个空气玻璃界面的多次反射的影响。楔形选项
- 紫外-FS：190 nm - 2200 nm
- BaF 2 : 200 nm - 11 µm
- CaF 2 : 200 nm - 8 µm
- 硒化锌：600 nm - 16 µm
特征
- 高损伤阈值
- 通光孔径：17.5毫米
- 采样百分比：0.02%-3.75%（取决于型号和波长）
- 可用的BeamTrap适用于高达 50 W 的光束（通过定制残余光束处理可实现更高的功率）
- 可用的柱式安装套件
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Specification Detail Wedge material options UV-FS BaF2 CaF2 ZnSe Damage Threshold See Damage Threshold App Note Clear aperture (mm) 17.5 Wavelength range UV-FS: 190 nm - 2200 nm BaF2: 200 nm - 11 µm CaF2: 200 nm - 8 µm ZnSe: 600 nm - 16 µm Sampled percentage 0.02%-3.75% (model and wavelength dependent) Optical path length 50 mm Available options BeamTrap for beams to 50 W Adjustable post mount kit
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