德国 SINTERFACE,测量仪器,泡沫和薄膜,薄膜分析仪TFA2

薄膜分析仪TFA2

微观泡沫和乳液膜的形成、其行为的观察以及若干物理化学参数的测量

原理基于众所周知的薄液膜 - 压力平衡技术。微观泡沫和乳化膜是在经过改进的 Scheludko-Exerowa 池中获得的，该池专为与该仪器的紧凑结构实现最佳兼容性而设计。膜厚度采用干涉测量法测量。该仪器配备数码相机，可同时观察膜并测量其厚度，两者均由现代 Windows 软件控制。

乐器部分

配备数码相机和

- 单色光源

- 光传感器模块

温度控制测量单元有两种改进形式：

i)在恒定的毛细管压力下形成薄膜

ii)对薄膜施加外部压力

- 压力控制单元

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