
DeFelsko Corporation 美国DeFelsko测厚仪 NS1
分离式探头,可测有色金属上的绝缘涂层
量程:0—1500微米
精度: ±(1 um + 1%读数) 0 – 50 um
±( 2 um+ 1%读数) > 50 um
DeFelsko Corporation 美国DeFelsko测厚仪 NS1
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