Harrick Scientific Products, Inc. Purge assembly and mount for the TFC 净化组件 PRO28415

 Purge assembly and mount for the TFC in the Bruker Alpha with Universal Sampling Module. Ref. HSPQ8509

标准样品架可容纳厚度不超过6毫米、高至少25毫米的样品。

保护样品和匹配的空白, 以进行光学厚度补偿。

可完全旋转, 可用于0°和高达90°的入射角。

角刻度从0°到90°标记为1°增量。

可实现的最大角度取决于样品厚度和宽度。

适用于厚度达60°、厚度为43毫米的角度。更宽的样品可以达到更高的最大角度。

可安装在两个位置, 以最大限度地提高性能与固有的极化入射辐射。

包括样品支架组, 可与厚度不超过 10 mm 的样品一起使用。

与 FT-IR 和 UV-VIS 偏振器兼容。标准样品架可容纳厚度不超过6毫米、高至少25毫米的样品。
保护样品和匹配的空白, 以进行光学厚度补偿。
可完全旋转, 可用于0°和高达90°的入射角。
角刻度从0°到90°标记为1°增量。
可实现的最大角度取决于样品厚度和宽度。
适用于厚度达60°、厚度为43毫米的角度。更宽的样品可以达到更高的最大角度。
可安装在两个位置, 以最大限度地提高性能与固有的极化入射辐射。
包括样品支架组, 可与厚度不超过 10 mm 的样品一起使用。
与 FT-IR 和 UV-VIS 偏振器兼容。