Sumix MAX-QM+白光干涉仪，用于光纤连接器的干涉检测

Sumix MAX-QM+白光干涉仪，用于光纤连接器的干涉检测

Sumix MAX-QM+白光干涉仪

MAX-QM+白光干涉仪是一款自动干涉仪，用于检测MTP®/MPO, ST, FC, SC, LC, MU, E2000™，SMA类型以及MT, MT- rj插套的单光纤和多光纤连接器。 MAX-QM+白光干涉仪是一款具有高测量速度，便携式设计，自动对焦和每行可测试12或16根光纤的大视场，使MAX-QM+白光干涉仪成为大批量生产线非常受欢迎的解决方案。 MAX-QM+白光干涉仪提供业界领先的MaxInspect 软件，用于光纤连接器的干涉检测。

Sumix MAX-QM+干涉仪技术参数：

测量技术: 非接触式，迈克尔逊干涉原理 镜头: NA = 0.15，平面度误差< λ/50 照明: 绿色LED (530nm) 视场: 5.6 × 4.2 mm 横向分辨率: 2.2µm 放大倍数: 100x(数码变焦关闭) 聚焦: 自动和手动 最大图像尺寸: 2590 × 1940 像素 可匹配连接器/连接管(PC和APC): MTP®/MPO, MT, MT16/32, MT-RJ, SMA, SC, FC, ST, LC, MU, E2000™, MIL Spec termini 显微镜模式: 无 测量模式: 相移和白光 扫描计算时间（测量时间可能因计算机性能和连接器端面形状而异）： 1 sec 用于单光纤,3 sec 用于MT12, 6.9 sec用于MT16, 4.9 sec 用于MT24, 5.7 sec 用于MT72. 测量范围: ROC (mm): 1至flat; 顶点偏移量: 0 ~ 2000μm; 光纤高度:大于1000um; 角度测量-全范围(度):0至28度 可重复性C.F.: ROC: 0.9 % (MT12); 0.04 % (SC/PC) Fiber Height: 0.8 nm (MT12); 0.1 nm (SC/PC) Angles: 0.005 deg (MT12); 0.0002 deg (SC/PC) Apex Offset: 0.04 µm (SC/PC) 可重复性C.R. : ROC: 1.2 % (MT12); 0.05 % (SC/PC) Fiber Height: 1.1 nm (MT12); 0.4 nm (SC/PC) Angles: 0.01 deg (MT12); 0.006 deg (SC/PC) Apex Offset: 1.1 µm (SC/PC) MAX-QM+干涉测量系统包括: MAX-QM+干涉仪 光学平面标准 USB 3.0电缆 AC适配器 包装箱 MaxInspect 软件 固定装置和其他配件需单独订购。  

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