美国Sumix MAX-Quantum干涉仪测量系统

Sumix MAX-Quantum 白光干涉仪,厂家代理

MAX-Quantum是一款高端自动干涉仪，用于单次扫描中检测MTP/MPO, ST, FC, SC, LC, MU, E2000类型的单光纤和多光纤连接器以及MT, MT- RJ插针。 MAX-Quantum 干涉仪同时提供端面几何检测、异常检测和导孔平行度和角度测量。MAX-Quantum 干涉仪具有高光学分辨率，自动对焦和视场角范围广，每排可测试16根光纤。 Sumix MAX-Quantum 干涉仪主要特征： 2D和3D表面轮廓分辨率高：可以探测小至1.47 μm的表面细节。自动对焦：只需点击一下，可以最大限度地减少操作员的动作。结合异常检测和几何测试：快速检查，提高工作效率。快速测量：测量单光纤连接器1.4秒，测量多光纤连接器7秒。与固定装置兼容：克服MTP®/MPO测量中的电缆张力和套圈定位不确定性，并控制附加参数-导孔平行度和角度 MT16和MT32检验：掌握最新的市场技术。数据库连接：将所有本地站点的测量数据存储在一个地方，并轻松将Sumix设备集成到您的制造系统中业界领先的MaxInspect™自动检测软件：测量曲率半径，顶点偏移，纤维高度，芯倾角等。遵从行业标准：根据IEC, Telcordia或您自己的合格/不合格标准进行测试。

Sumix MAX-Quantum规范

Sumix MAX-Quantum系统

测量技术：非接触式;迈克尔逊干涉测量法

镜头：NA = 0.22

照明灯：绿色 LED （530 nm）

视场角：6.0 × 4.4 毫米

横向分辨率：1.47微米

放大：200×（数码变焦关闭）

重点：自动和手动

最大图像尺寸：4096 × 3000 像素

最适合连接器/套圈（PC 和 APC）：SC、FC、ST、LC、MU、E2000™、MTP®/MPO、MT16/32、MT-RJ、MT、SMA

显微镜模式：是的

Sumix MAX-Quantum测量

测量模式：相移和白光

扫描和计算时间：测量时间可能因计算机性能和连接器端面形状而异。

单纤 1.4 秒， MT12/24 为 7 秒， MT16 为 7.2 秒， MT24 为 7.57 秒（带异常检测）， MT72 为 10.4 秒。

测量范围：

ROC （mm）：1 到平坦顶点偏移（μm）：0 至 2000 纤维高度* （μm）：超过 1000** 角度测量 - 全范围（度）：0 至 28 *** * 与扫描物体的最高点和最低点的差异。 **<默认提供 100 μm。 >100 μm - 用于特殊连接器/任务（需要软件调整）。 *** 常规灯具 - 0， 8， 9度。定制夹具 - 0 -28 度。

重复性 C.F.*： * 值是通过连续 30 次测量计算得出的，测量值之间没有连接器交互（连接器固定），代表一个 sigma 值。

ROC：0.9%（MT12）;0.04% （SC/APC）纤维高度：0.8 nm （MT12）;0.1 nm （SC/APC）角： 0.005 度（MT12）;0.0002 度（SC/APC）顶点偏移：0.04 μm （SC/APC）

重复性 C.R.*： * 值是通过连续 30 次测量计算得出的，在测量之间移除和插入连接器（连接器重新加载），代表一个西格玛值。

ROC：1.2%（MT12）;0.05% （SC/APC）纤维高度：1.1 nm （MT12）;0.4 nm （SC/APC）角： 0.01 deg （MT12）;0.006 度（SC/APC）顶点偏移：1.0 μm （SC/APC）