
DeFelsko Corporation 美国DeFelsko测厚仪 美国DeFelsko测厚仪 FS1
分离式探头,可测铁性基材上的非磁性涂层。.
量程:0-1500微米
精度:±(1 μm + 1%读数) 0 – 50 μm
±(2 μm + 1%读数) > 50 μm
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