PREVAC FTIR光谱系统红外光谱仪 MOKE系统超薄磁膜 TPD/TDS系统超薄膜吸附/解吸 AFM/STM系统原子力显微镜摩擦计

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FTIR光谱系统红外室专为红外光谱研究而设计。它配备了精密的样品定位机构、视口和备用端口，用于未来的设备。该系统包括溴化钾玻璃端口，可与 Bruker Optics Inc. 红外光谱仪配合使用。其他市售光谱仪可根据要求进行接口。	MOKE系统 UHV 系统，用于超薄磁膜和多层的原位实时磁光克尔效应研究。它旨在研究偏振光通过受磁场影响的样品材料的反射。
TPD/TDS系统独立的 UHV 装置，用于测量超薄膜的吸附/解吸，能够在较宽的温度范围内进行高精度温度控制。	AFM/STM系统独特的原子力显微镜分析系统，可在宽压力范围内工作，用于气固界面的前沿研究。主 AFM 室 – 由不锈钢制成，带有不同尺寸的连接法兰，用于当前和其他设备。工作压力范围为 1 个大气压至 UHV（在 150 ºC 下烘烤后）。
	摩擦计带 6 轴力传感器的 UHV 摩擦计。用于研究两个表面之间的摩擦学和机械性能（例如，用于压痕和断裂实验）的模块，温度范围很广，从 UHV 到环境压力条件。

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