Sumix WIZ-QS-110白光干涉仪，用于大批量生产环境中单光纤连接器、插套和裸光纤的干涉检测
WIZ-QS-110白光干涉仪
WIZ-QS-110白光干涉仪是一款自动干涉仪，用于检测单光纤连接器、插套和裸光纤。
WIZ-QS-110白光干涉仪被设计为用于大批量生产环境中光纤连接器干涉检测的基本解决方案，其中速度，简单性和精度最重要。白光测量算法和无需频繁校准的精确对准夹具使其在同类产品的竞争中脱颖而出。
WIZ-QS-110白光干涉仪是WIZ-QS+干涉仪的升级型号，保留了其所有优点。
WIZ-QS-110白光干涉仪主要特征：
适合批量生产：节省时间，易于插卡/连接器插入和夹具处理。
自动对焦：只需点击一下，可最大限度地减少操作员的动作。
交互式2D和3D表面轮廓：旋转，缩放，缩放图像，以探索小至2.5 μm的表面细节。
快速测量：使用USB 3.0超高速连接，最快可在1.3秒内测量单光纤连接器和护套。
一键式操作：节省时间测试大量的连接器在快速模式。
业界领先的MaxInspect™自动检测软件：测量曲率半径，顶点偏移，纤维高度，芯倾角等。
工厂精密对准夹具：在每次使用之前或在固定装置之间更换时，不必校准固定装置。
应用范围广：检查单光纤连接器，护套，裸光纤，Arinc, MS端子，PC和APC。
遵从行业标准：根据IEC, Telcordia或您自己的合格/不合格标准进行测试。
光纤高度扫描范围超过1000微米：精确检查有较大不连续的卡套表面和特殊接头。
数据库连接：将所有本地站点的测量数据存储在一个地方，并轻松将Sumix设备集成到您的制造系统中
WIZ-QS-110白光干涉仪技术参数：
视场: 1.2 x 0.9 mm
光学分辨率: 2.5µm
可匹配连接器/连接管: ST, FC, SC, MU, LC, E2000™, Arinc, MS termini - PC and APC, 裸光纤
测量模式: 相移和白光
扫描和计算速度：1.3秒
显微镜模式: 无
最大图像尺寸: 2590 × 1940 像素
放大倍数: 460x
聚焦: 自动
测量范围: ROC (mm): 1至flat; 顶点偏移量: 0 ~ 2000μm; 光纤高度:大于1000um; 角度测量-全范围(度):0至28度
可重复性C.F.: 0.2 %
Fiber Height: 0.4 nm
Angles: 0.0002 deg
Apex Offset: 0.02 µm
可重复性C.R. : ROC: 0.2 %
Fiber Height: 0.5 nm
Angles: 0.007 deg
Apex Offset: 1.1 µm
Sumix WIZ-QS-110白光干涉仪标准配置：
WIZ-QS-110干涉仪
光学平面标准用于设备校准
USB 3.0电缆
AC 适配器
包装箱
MaxInspect™软件
夹具和其他配件需另外订购
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