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UV LED测量需要一个为LED供电的电源和一个光学测量设备(光电二极管、光谱仪等)。)来测量光线。Vektrex生产各种精密脉冲源/测量单元(smu ),可用于为测量用UV LEDs供电。 Vektrex SMUs产生微秒级的短电流脉冲。短脉冲减少了测量过程中LED的发热，从而产生更精确的测量结果。例如，下图显示了UV-C LED的峰值波长如何随电流变化。如果用类似DC的长脉冲来测量这个LED，峰值波长似乎随着电流而增加。但是从短脉冲测试来看，实际的特征是下降的趋势。

UV-LED测量的SMU关键特性

快速脉冲有助于更好的测量(建议10微秒)
针对DCP测量进行了优化，减少了后处理数学
与您最喜欢的测光设备配对的组件
作为完整的UV-LED测量系统提供

如何为紫外发光二极管供电进行测量 Vektrex脉冲SMUs满足使用短脉冲测试UV-A、UV-B和UV-C led的要求。事实上，Vektrex SMU在研究中得到了广泛的应用，这导致了ANSI/IES UV-LED测量标准LM-92-22的发展。LM-92-22规定了10秒和20秒的脉冲，以及一种称为差分连续脉冲.

要为您的设备供电，请使用随附的力/感测电缆连接SpikeSafe SMU。然后使用Vektrex开发的控制面板软件应用程序来连接、配置和控制SMU。定义脉冲电流模式、脉冲参数和数字化仪设置。LED的正向电压由SMU的智能数字化仪测量，该数字化仪可自动将测量值与电流脉冲对齐。触发输入和触发输出信号可用于使电流脉冲与外部仪器同步以捕捉光线。目视验证您的UV-LED测量。 Vektrex提供python例程来加速您的定制软件开发。

UV-LED测量系统

如果您需要的不仅仅是一个电源，Vektrex可以提供一个完整的UV-LED测量系统，包括PTFE球体、光谱辐射计、SMU、软件、电缆和支持UV-C测量所需的附件。

Vektrex SMU使我们与众不同的特性从1 s到DC的干净、低抖动脉冲真差分数字化仪自动将测量值与脉冲对齐 10V以上的电压–高达180V 电流高达60A 低或高占空比操作，0-100% 高平均输出功率，> 500W 短脉冲LED测量研究要了解更多短脉冲测试背后的科学知识，这里有一些有用的参考资料: 短脉冲有助于更好的测量:Jeff Hulett撰写的这篇文章解释了为什么短脉冲将实现更精确的光学测量。简化短脉冲测试实施:Jeff Hulett在《led》杂志上发表文章，解释了一种新的短脉冲测试方法如何在led的电光测量中使用先进的光谱仪和源/测量仪器功能。使用快速精确脉冲SMU表征LED压降:LED产品通常采用增加器件发热的方法来表征。这些使用DC电流、长脉冲或阶梯扫描的过时方法会导致温度下降。紫外发光二极管晶闸管效应晶闸管效应是不成熟LED产品的一个已知缺点。查看成熟和不成熟设备的UV-LED测量差异。标准化的UV-LED测量实施UV-LED短脉冲测试的最佳方法记录在ANSI/IES LM-92中。LM-92的方法解释了如何使用DCP之类的技术来克服紫外线部件带来的热、光和电方面的挑战。标准化测量确保您的测量结果与其他实验室的测量结果一致。他们还提供了权威的证据证明你的产品将提供广告的力量，提供有效的杀菌消毒。要了解有关标准化UV-LED测量的更多信息，请参考: GUV辐射源的光学计量和文件标准:阅读《紫外线解决方案》杂志上由杰夫·胡莱特、卡梅隆·米勒()和宗()撰写的文章全文。 IUVA NIST和Vektrex合作生产LM-92紫外LED测试标准:Jeff Hulett、Cameron Miller和Troy Cowan详细介绍了跨组织参与UV标准制定的重要性，以及这些努力将如何进一步推动GUV设备的市场渗透和性能。 LM-80-21版本改进了测试方法:LM-80-21改进了可见光LED设备的测试方法，并解决了新型设备的适用性问题，包括紫外LED、激光二极管和灯丝LED 发光二极管和激光二极管精确光学测量的平均微分连续脉冲法:关于led和激光二极管精确光学测量方法的NIST出版物。紫外测量需要考虑的因素:led杂志网络研讨会，介绍Intertek和Vektrex。 DCP测量的实际实施和应用:新的差分连续脉冲(DCP)测量方法是一种强大的工具，可以加速和简化具有挑战性的LED和激光光学测量。